本文標題:"上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)研發(fā)設計出全新之測量?jì)x器"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 技術(shù)文章 ------
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上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)研發(fā)設計出全新之測量?jì)x器 -- 光學(xué)影像測量?jì)x、干涉顯微鏡塊規比測儀及外徑尺寸比測儀。
一二維光學(xué)量測設備上,上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)產(chǎn)品維持我國很高的之市場(chǎng)占有率。
在測長(cháng)儀方面,設計以花崗巖為基材,可依客戶(hù)所需之長(cháng)度而精心裁制。
在應用方面不僅可量測塊規、環(huán)規、塞規、卡規、分厘卡、螺紋規,更可進(jìn)一步檢測其它廠(chǎng)牌無(wú)法達到的檢驗。如內外螺紋之牙距及錐度之檢驗,且量測精度更是首屈一指(提供工件、花崗巖及光學(xué)尺之溫度即時(shí)補償),教導式軟體更是使操作者一目了然。
在比測儀方面,提供ABBE 250外徑比測儀。采用自動(dòng)上下式探針進(jìn)行量測,減少人為誤差。EMP系列之塊規比測儀更是將光學(xué)尺之長(cháng)距離檢測優(yōu)勢應用于此。在進(jìn)行塊規比對式量測時(shí),不需一對一同尺寸的檢測,如于100 mm之量測范圍,僅需提供10片以下之標準片,便可進(jìn)行量測。在整個(gè)量測過(guò)程中,大大的提高時(shí)間效率及降低塊規成本之預算,對整體之效益,提供莫大之幫助。
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