本文標題："電子顯微鏡固體表面的成像技術(shù)簡(jiǎn)介-材料顯微結構"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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電子顯微鏡固體表面的成像技術(shù)簡(jiǎn)介-材料顯微結構
近年來(lái)顯微技術(shù)中一個(gè)新的組成部分已經(jīng)形成，這就是用局域探
針現場(chǎng)描繪固體表面的成像技術(shù)。
通過(guò)局域探針，分辨率可以達到原子水平，這也愈味著(zhù)探針的大
小和在固體表面移動(dòng)控制的精確度是這一技術(shù)分辨率的關(guān)鍵。探針通
常位于側試樣品幾個(gè)原子大小的距離并且不受介質(zhì)的形響，在實(shí)驗進(jìn)
行的同時(shí)，現場(chǎng)監測隨時(shí)間表面形貌的變化。對表面的精確掃描是通
過(guò)使用壓電裝置，即壓電品體改變的大小隨所加電勢差作線(xiàn)性變化。
壓電裝置安裝在x,y和z 方向，
通常隨y 的變化，在x-z 方向上連續掃描，這樣就能記錄下一系
列的x-z 曲線(xiàn)。這些數據可以通過(guò)計算機進(jìn)行處理、繪出灰色標度的
圖，如果需要也可以繪出彩色圖。
這些技術(shù)中最重要的是掃描隧道顯微鏡（STM ），是Binning 和
Rohrer發(fā)明的，為此他們獲得了1986年的諾貝爾物理獎；其次重要的
是原子力顯微鏡。
具有電化學(xué)性質(zhì)的其它局域探針技術(shù)，也依賴(lài)于這一相同的技術(shù)，
它們是掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）和掃描離子導電顯微鏡（SICM）
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