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本文標題:"偏光顯微鏡可用應用來(lái)測量反射率-測量光學(xué)儀器"

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 偏光顯微鏡可用應用來(lái)測量反射率-測量光學(xué)儀器

 
在測量顯微鏡中可使用偏光鏡檢術(shù)觀(guān)測法
 
    偏光顯微鏡是專(zhuān)門(mén)判斷物質(zhì)細微構成的光學(xué)性能質(zhì)量的一種測量
儀器,一般特有雙折射的物質(zhì),在偏光顯微鏡下可以清晰的區別開(kāi)來(lái),
然而這些物體也能用染色發(fā)進(jìn)行觀(guān)測,但是有一些也不可以,則一定
要采用偏光顯微鏡。
 
    偏光顯微鏡的特點(diǎn)就是將普通光變換為偏光進(jìn)行鏡檢的方式,去
判定一些物質(zhì)是單折射還是雙折射性。雙折射性是晶體的主要的特別
性能,所以偏光顯微鏡廣泛的適用于礦物?;瘜W(xué)等領(lǐng)域。

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