本文標題："普通光學(xué)顯微鏡下觀(guān)察礦物中微量碎片特征"
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普通光學(xué)顯微鏡下觀(guān)察礦物中微量碎片特征
砂樣品的包裹體兩片光薄片的制備
方法基本同上，只是省去切割工序。用環(huán)氧樹(shù)脂將其粘在24X24X2
毫米的玻璃片上烘烤，膠硬化后即可磨樣、拋光。其余工序同其他兩
面光片。
光薄片用于研究巖石礦物中微量鈾裂變碎片對周?chē)橘|(zhì)產(chǎn)生強烈
輻射損傷的軌跡（徑跡）。由于徑跡很細小，需要經(jīng)化學(xué)蝕刻才能在
普通光學(xué)顯微鏡下觀(guān)察，因此對這種光薄片的要求也與普通的光薄片
不同。
③厚度要適當。透明度好的礦物磨薄至0.06-0.08 毫米；透明度
較差的礦物，光薄片的厚度為0.04-0.05 毫米。
薄片太厚，透明度不好，會(huì )影響鏡下觀(guān)察；薄片過(guò)薄，在進(jìn)行酸
堿腐蝕時(shí)易損壞薄片。
②拋光質(zhì)量要特別好，光潔度極高并無(wú)條痕和麻點(diǎn)。否則蝕刻后
會(huì )出現假蝕刻坑，與徑跡混淆而影響觀(guān)察。
③粘結膠既要粘結牢固、透明度好，又能耐強酸強堿的腐蝕。
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