本文標題："顯微鏡使用光學(xué)方法能分辨細片晶或頁(yè)理的顯微構造"

顯微鏡使用光學(xué)方法能分辨細片晶或頁(yè)理的顯微構造

    礦物的顯微構造研究，是礦物學(xué)研究和巖石學(xué)研究領(lǐng)域里的一個(gè)重要組成部
分。用光學(xué)方法能分辨的顯微構造，諸如平行的破裂面、雙晶、環(huán)帶、出溶、鑲
邊的晶體，以及形變產(chǎn)生的微頁(yè)理(Lamellae)構造等都能用干涉顯微鏡研究，既
可以用旋轉針臺來(lái)研究單礦物碎片，也可以在薄片中進(jìn)行研究。

    對出溶的研究類(lèi)似于用干涉顯微鏡研究環(huán)帶問(wèn)題。巖石學(xué)工作者都熟悉象條
紋長(cháng)石和微條紋長(cháng)右這樣的出溶現象。然而，月球巖石中大多數的輝石具出溶現
象，且其出溶片晶和泡狀晶(blebs) 的寬度為微觀(guān)到亞微觀(guān)大小。這樣細的出溶
片晶可能同別的細片晶或頁(yè)理構造( 如雙晶) 相混淆。

    除了細的亞微觀(guān)出溶結構必須用透射電子顯微鏡和X 射線(xiàn)衍射丟研究，微觀(guān)
出溶結構的寬度足夠做電子探針?lè )治?，因而也就足夠用?lái)作干涉顯微鏡研究。有
些不能用電子探針?lè )治龅慕鼇單⒂^(guān)出溶結構，可用干涉顯微鏡通過(guò)條紋位移來(lái)揭
示。所以把干涉顯微鏡和電子探針密切配合起來(lái)使用是很有必要的。

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