本文標題："TEM電子顯微鏡觀(guān)察鍍有碳膜或涂碳聚合物膜"
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TEM電子顯微鏡觀(guān)察鍍有碳膜或涂碳聚合物膜
TEM是獲取膠體體系相關(guān)信息的一種強有力的技術(shù)。人們例行地用它獲取
膠體顆粒大小、形狀、分散度和凝聚情況等信息.它也能夠對內部結構、化學(xué)組
成和品體學(xué)信息進(jìn)行分析。在膠體體系的分析中，最關(guān)鍵的一步往往是樣品的制
備。
正如上面所提到的，由于儀器設計的原因，對樣品有許多普遍性限制(真空、熱
、光穩定性)。對于TEM分析，進(jìn)一步的限制針對樣品的維度.樣品通
常由鍍有碳膜或涂碳聚合物膜的3mm直徑的銅微柵網(wǎng)支撐。選擇這樣的支撐膜
是因為碳具有較低的原子雖，且呈非晶態(tài)，以便使樣品圖像中信息損失減至最
小.另外，樣品應該盡可能地薄(<1μm)，以便使電子容易通過(guò)，并將電子束
對樣品的損傷降至最低。
許多種技術(shù)可以用來(lái)為T(mén)EM分析制備樣品。然而，所有的制樣
步驟都可能給樣品圖像帶來(lái)假象。下面通過(guò)一些挑選的TEM研究膠體粒子的實(shí)
例來(lái)重點(diǎn)展示從膠體粒子的簡(jiǎn)單分散體可以獲取的信息范圍，以及采用一些間
接制樣方法能夠獲得的附加信息.
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