本文標題："金屬截面晶粒尺寸測量其厚度用工具顯微鏡"
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金屬截面晶粒尺寸測量其厚度用工具顯微鏡
要解決該問(wèn)題，首先要能識別再結晶區的存在。由于再結晶
區的組織結構、彈性模量與未發(fā)生再結晶的區域有較大的差異，可
能在兩者界面上產(chǎn)生超聲波的反射，從而可利用反射信號識別再
結晶層并測量其厚度;同時(shí)，兩者晶粒尺寸與組織結構的差異也可
能引起超聲散射信號的差異，通過(guò)信號處理識別再結晶層的存在。
在可識別再結晶層的情況下，一方面要根據基體和再結晶層組織
結構特點(diǎn)合理制訂檢測工藝，得到準確波形;另一方面，要研究如
何進(jìn)行信號分析和特征值提取，這兩點(diǎn)是再結晶層超聲無(wú)損檢測
的關(guān)鍵所在。檢測方法的確定主要考慮如何獲得準確的超聲回波信號。
對于具有再結晶層的葉片，得到的超聲脈沖回波信號比較
復雜，不同界面的多次回波互相交錯，甚至疊加，帶來(lái)波形識別上
的困難。為此，首先應保證探頭與探傷儀之間的良好匹配，并設法
獲得聲束寬度很細的脈沖信號;其次，通過(guò)驅動(dòng)裝置控制探頭的移
動(dòng)范圍和精度，以便改變聲束焦點(diǎn)的位置，獲得不同深度、不同位
置處的精確回波。
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