本文標題："光學(xué)分析軟件-帶顯微圖像自動(dòng)計量成像裝置"
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光學(xué)分析軟件-帶顯微圖像自動(dòng)計量成像裝置
(1)導電高分子薄膜材料的厚度對材料的力學(xué)性能具有很大的影響，薄
膜較薄時(shí)表現出較好的力學(xué)性能，當薄膜厚度超過(guò)某一臨界厚度時(shí)，薄膜的彈
性模址趨于同一值，但是薄膜的屈服強度隨膜厚仍呈下降趨勢。對于聚哦吩
而言.厚度為4-5μm的薄膜表現出最佳的力學(xué)性能，當厚度超過(guò)10μm，材料
的彈性模量幾乎是一樣的.對于聚毗咯材料而言，厚度在15μm以上的聚毗
咯薄膜材料的彈性模且是一樣的，較薄一點(diǎn)的薄膜性能較好。
(2)導電聚唾吩和聚毗咯薄膜材料與磁帶材料相比其材料強度并沒(méi)有多
大差別，主要差別體現在材料的韌性和延伸率。由此可見(jiàn)，導電高分子材料的
力學(xué)性能離實(shí)際應用的要求已經(jīng)非常接近了。
(3)膜厚對導電高分子力學(xué)性能的影響可能與薄膜的生長(cháng)機理隨厚度的
增加而變化有關(guān)，為了獲得具有最佳的力學(xué)性能參數的導電高分子薄膜材料，
有必要對現有工藝條件進(jìn)行改進(jìn)。
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