本文標題："電子顯微鏡另一個(gè)重要特點(diǎn)上放大倍率變化范圍較寬"
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電子顯微鏡另一個(gè)重要特點(diǎn)上放大倍率變化范圍較寬
掃描電子顯微鏡另一個(gè)重要特點(diǎn)上放大倍率變化范圍較寬，因
而有可能宏觀(guān)斷口分析和顯微鏡斷口分析結合起來(lái)。點(diǎn)在研究服役
過(guò)程中的斷裂事故時(shí)特別有用。
盡管透射電子顯微鏡的放大位數高些，但掃描電子顯微鏡能用
來(lái)研究粗糙的斷口，這是透射電子顯微鏡做不到和，
掃描電子顯微鏡還適于觀(guān)察非常小的斷口（如線(xiàn)材的斷口），
而在確定主斷裂和次斷裂源以及匹配斷口的對應區時(shí)，掃描電子顯
微鏡也能用來(lái)觀(guān)察大尺寸的斷口。
這里有必要對掃描電子顯微鏡試樣制備的一皯問(wèn)題作簡(jiǎn)要敘述
：試樣可能是在實(shí)驗室內確定的條件下斷裂；也可能是在服役現場(chǎng)
斷裂的，這兩種情況下得到的斷口表面狀況是不一樣的。在前一種
情況里，
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