本文標題："TEM電子顯微鏡樣品測量面積是極小的-光學(xué)儀器常識"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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TEM電子顯微鏡樣品測量面積是極小的
在分析TEM樣品時(shí)，必須懂得測量面積是極小的，因此，
測量結果末必能代表整塊試樣，應當采用盡可能低的放大倍
數而是要許多位置上隨機地選擇試驗區域。用復型測定沒(méi)有
大的問(wèn)題。應用的方法同反射光的光學(xué)顯微鏡方法也一樣，
除非是由于用了很高的放大倍數而使測量面積很小影響統計
學(xué)的測量精度。
SEM具有光學(xué)顯微鏡和大部分TEM所復蓋的放大倍數的范圍
，但制樣方法和光學(xué)顯微鏡一樣，雖然對SEM觀(guān)察時(shí)，為改
善圖象反差，常常把試樣浸蝕得深一些，但是使用現代化的
儀器則不一定有深浸蝕的必要。對于高倍下的測量要得到最
好的精確度，要求淺浸蝕，其實(shí)，若各相之間的原子序數差
別較大而足以產(chǎn)生滿(mǎn)意的背散射電子圖象的話(huà)，許多試樣用
不著(zhù)浸蝕就可進(jìn)行觀(guān)察，深浸蝕會(huì )增加視在尺寸、體積分率
和第二相粒子數而減少它們的間距，深浸蝕試樣對研究形狀
和大小很有用，但任何獲得其他情報的嘗試會(huì )導致錯誤的結
論。當試圖用SEM圖象或照片進(jìn)行測量時(shí)，應避免試樣相對
于電子束的傾斜，否則會(huì )使分析復雜化。
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