本文標題："多晶試樣中，總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-2-10 10:43:13
多晶試樣中，總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡
在多晶試樣中，總是有某些表面晶粒，共有效滑移面相對于
最大分循環(huán)剪應力的位向是有利的，單晶體與多晶體不同，其表
而條痕的外貌取決于最大分剪應力和有效滑移面的相對位向。曾
指出，當方截面單晶體承受循環(huán)扭轉載荷時(shí)，如果晶體的有效滑移
向量平行于一個(gè)面，由于剪應力在試樣每個(gè)而的中點(diǎn)達到最大，
而在角上減小到零，因此晶體上沒(méi)有由越出表面的剪應力分量產(chǎn)
生滑移運動(dòng)的地位，故因滑移越出表面而造成的表面開(kāi)裂所起的
影響最小
雖然許多延性純金屬和簡(jiǎn)單合金在室溫下和接近長(cháng)期疲勞強
度的應力級下作試驗時(shí)，會(huì )出現滑移帶開(kāi)裂，但是金相檢驗表
明，其他金屬會(huì )出現晶界開(kāi)裂，而實(shí)際上在較低應力級下出現滑
移帶開(kāi)裂的那些金屬，在經(jīng)過(guò)短耐久期后引起斷裂的應力級或應
變幅下就會(huì )出現晶界開(kāi)裂。表面變形的劇烈變化造成晶界開(kāi)裂，
估計可能是山于晶界不能適應鄰近晶粒中發(fā)生的大循環(huán)
變形，因而在晶界上產(chǎn)生了嚴重的應變梯度，這樣就產(chǎn)生了引起
表而裂隙的附加剪切作用
后一篇文章：鍛鋼硬金屬試樣截面分析金相圖像顯微鏡 »
前一篇文章：« 金屬表面晶粒粗糙度測量工具便攜顯微鏡
tags:材料學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
多晶試樣中，總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/2248.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/