本文標題："改善高聚物試樣電子顯微圖象各組分計量金相顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-2-13 17:5:35
使得許多重要的形貌細節（如晶區和非晶區的排列及大小分布，共
混及共聚物中各組分的狀態(tài)等）都不能直接在電鏡下觀(guān)察到，
因而大大限制了電鏡在高聚物研究中進(jìn)一步的應用。
近年來(lái)，在高聚物電鏡研究中，逐步采用了類(lèi)似于醫學(xué)中常用的物
理化學(xué)染色技術(shù)，在改善高聚物試樣電子顯微圖象反差方面取得了顯著(zhù)
效果。高聚物染色技術(shù)是以高聚物本身在化學(xué)上（化學(xué)鍵及基團的性質(zhì)）
和物理上（品區及非品區密度不同等）的特點(diǎn)為依據，選舉一種或
兩種化學(xué)試劑，
在一定條件下，使試劑只攻擊高聚物中的特定區域（通過(guò)化學(xué)反應
或物理沉積）而其它區域又不受這種攻擊，最終使某種重金屬（如餓或
鈾等）被固定在該特定區。
由于重金屬的引入，擴大了高聚物試樣中不同區的質(zhì)級密度差，
因而在電鏡下可觀(guān)察到染色前無(wú)法看到的形貌細節。
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