本文標題："兩個(gè)折光率不同的介質(zhì)相接觸時(shí)-礦物檢測顯微鏡"
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兩個(gè)折光率不同的介質(zhì)相接觸時(shí)-礦物檢測顯微鏡
一軸晶晶體一軸晶光率體的主軸為No及Ne，故有兩個(gè)
主要顏色，測定一軸晶的多色性，必須利用平行光軸的切
面，因為此面上包含真正的No及Ne，垂直光軸的切面，只
能看到的顏色，而不能看到顏色的變化，任意方向的切面。
薄片中的礦物邊緣、糙面、突起及貝克線(xiàn)1 、礦物的
邊緣（輪廓）
當兩個(gè)折光率不同的介質(zhì)相接觸時(shí)，由于光從一種介
質(zhì)傳入另一種介質(zhì)中，必然發(fā)生折射，使兩種介質(zhì)交界處
的光亮減弱，面晶粒出黑暗的邊緣，稱(chēng)為礦物的邊緣，各
種礦物邊緣的粗細，明暗，決定于礦物與加拿大樹(shù)膠的折
光率差值的大小，二者相差愈大，邊緣愈粗愈暗，仔細觀(guān)
察礦物的邊緣，可以粗略估計礦物與加拿大權膠折光率的
差值。
2 、礦物的糙面在顯微鏡下觀(guān)察薄片中各礦物時(shí)，可
以看出某些礦物表面較光滑，某些礦物表面較粗糙，好像
紴皮一樣，這種現象稱(chēng)為糙面。
3 、礦物的突起在薄片中，不同礦物顆粒表面好像是
高低不一，有些礦物顯得高一些，有些礦物則顯得低一些，
這種現象稱(chēng)為突起。
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