本文標題："鎂合金胚料微觀(guān)結構檢測電子顯微鏡"
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鎂合金胚料微觀(guān)結構檢測電子顯微鏡
微觀(guān)組織
藉由掃描式電子顯微鏡（ Scanning Electron
Microscope，SEM），觀(guān)察 AZ31 鎂合金胚料，在各成
形溫度下，超過(guò) LDR 之破裂圓筒，其破斷面之破壞形
態(tài)，了解其破壞原因。圖 15 是成形溫度 100℃時(shí)，AZ31
鎂合金圓筒之破斷面，從照片可觀(guān)察到其破壞形態(tài)為
脆性破壞。圖 16～18 是成形溫度 150℃、200℃與 260
℃時(shí)，圓筒之破斷面， 隨溫度升高，破斷面逐漸由脆
性破斷面，轉變?yōu)榘几C狀的延性破斷面。這是因為成
形溫度升高，鎂合金產(chǎn)生除基面外的滑動(dòng)機制，
因此延展性隨溫度升高而提高。
因此 AZ31 鎂合金在 100℃時(shí)之破壞形態(tài)為脆性
破壞，隨著(zhù)成形溫度之提高到 150℃時(shí)，延展性隨之
增加，開(kāi)始由脆性破壞轉換成延性破壞之形式
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