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本文標題:"顯微鏡分析切片技術(shù)-復型品用TEM進(jìn)行檢測"

發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------ 人瀏覽過(guò)-----時(shí)間:2014-6-27 17:15:42

 顯微鏡分析切片技術(shù)-復型品用TEM進(jìn)行檢測

 
    切片技術(shù)一個(gè)替代方法是制備樣品表面碳一鉑復型品的方法。制備復型品時(shí),將鉑以
20°角噴射在樣品表面(在真空狀態(tài)下通過(guò)耐熱蒸發(fā)器連接在碳弧.上,或用離子濺射在鉑
靶上),然后碳層直接從表面蒸發(fā)掉(碳弧或耐熱性碳纖維)。
 
 
碳形成一個(gè)連接層,而金屬鉑可以根據樣品的表面波動(dòng)形成圖像。樣品可以從復型品中溶
解掉(有時(shí)不容易做到),然后復型品用TEM進(jìn)行檢測。復型技術(shù)會(huì )產(chǎn)生熱量,所以在通常
情況下,僅適用于固體和熱穩定性樣品。不耐熱的樣品可以用冷凍法復制,或在復制過(guò)程
中保持冷凍狀態(tài),這些方法與冷凍斷裂和冷凍蝕刻技術(shù)有關(guān)
 
    表面復型技術(shù)為超薄切片提供了一種有效方法,并可以避免化學(xué)固定和乙醉脫水的影
響。因此,可以采用此方法從超薄切片中觀(guān)測重要發(fā)現,有助于解釋超薄切片圖像的
含義。
 

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