本文標題："實(shí)驗室太陽(yáng)電池分析技術(shù)中顯微鏡的應用"
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實(shí)驗室太陽(yáng)電池分析技術(shù)中顯微鏡的應用
干涉顯微技術(shù)是一種傳統的分析技術(shù)，也是眾多探測表面形貌技術(shù)中的一種，已被
成功應用于生物領(lǐng)研，但在OPV領(lǐng)域目前還沒(méi)有廣泛應用.干涉顯微技術(shù)的橫向分辨率低于A(yíng)FM，
但其優(yōu)勢在于掃描范圍廣泛采集速度快。從實(shí)驗室太陽(yáng)電池到大面積太陽(yáng)電池如卷對卷的發(fā)展
過(guò)程，要求有相應分析技術(shù)的改變。而對大面積電池的快速分析，
具有長(cháng)遠性的意義。
干涉顯微技術(shù)是通過(guò)鋁電極及對應的微孔在OPV器件表面上的探測
而獲得相應的圖講，
構的有機太陽(yáng)電池中，鋁電極干涉.顯微鏡圖(134 fun X 179 tim)，電極表面布滿(mǎn)突起的微孔，
水平的白色線(xiàn)表示掃描的位拼3) )。突起的部分是氧分子通過(guò)微孔擴散后與有機材料反應
而形成的，這種突起最終延伸到全部范圍內(由于攝級量的原因)?？梢栽跓o(wú)包粗的OPV電
極表面迅速和簡(jiǎn)易地探測到突起部分的密度和大小，是一種有效地研究衰減機制的方法。
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