本文標題："顯微鏡分析化學(xué)、光化學(xué)和物理光學(xué)的實(shí)際應用"
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顯微鏡分析化學(xué)、光化學(xué)和物理光學(xué)的實(shí)際應用
光譜光度學(xué)有兩個(gè)主要目的:
(1)測定試樣吸收的輻射能數量
(2)測定已知輻射通量投射在試樣上所發(fā)生的變化.‘其中
包括各種反射、熒光及其光譜分布.
在分析化學(xué)、光化學(xué)和物理光學(xué)的實(shí)際應用中，經(jīng)常是測定
試樣的吸收量。然而，當我們對光譜吸收度、衰減和顏色的評價(jià)
以及材料的外貌等感興趣時(shí)，則第二種目的卻變得重要了.因為
普通的光譜光度學(xué)不直接測量吸收度，必須由實(shí)驗測得的透射比
來(lái)確定。
通過(guò)測量吸收產(chǎn)生的熱效應來(lái)直接確定試樣的吸收度的新方
法已經(jīng)趨于完善。這就是光聲光譜法和光熱光譜法。
在工業(yè)試驗室，廣泛使用相對法測量慢反射比.該方法的優(yōu)
點(diǎn)是，儀器簡(jiǎn)單，測量方便，缺點(diǎn)是，它的測量準確性與所用傳
遞標準的有關(guān)，特別是，當待側試樣的反射角分布與標準不相同
時(shí)，將會(huì )引入明顯的誤差。
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