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本文標題:"橫切剖面顯微結構觀(guān)察顯微鏡"

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 橫切剖面顯微結構觀(guān)察顯微鏡

 
比較兩款不同的封膠,由實(shí)驗結果可得知,MD1封膠在可靠度試驗中發(fā)現電性失效,沒(méi)有通過(guò)可靠度測試, 
而MD2封膠則完全通過(guò)所有的可靠度試驗,所以對此設計新的實(shí)驗方式, 
 
透過(guò)兩種不同封膠各與PI或Si3N4晶片保護層進(jìn)行界面剪切強度測定,再比照應力模擬結果, 
進(jìn)而可預測其溫度循環(huán)試驗可靠度結果,降低制造成本,達到最佳化設計, 
 
并經(jīng)過(guò)可靠度試驗后試片之橫切剖面顯微結果,損壞位置也皆與應力模擬之最大應力位置相同。 
最后結果可以知道,材料性質(zhì)分析與可靠度試驗和應力模擬中,三者之相關(guān)聯(lián)性,扮演著(zhù)不可或缺的一角。 
關(guān)鍵字:封膠膠材、可靠度試驗、界面強度試驗、落地試驗、應力模擬、剪應變能密度 

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