本文標題："用實(shí)體顯微鏡測量統計-礦物分析顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2014-12-11 17:21:59
用實(shí)體顯微鏡測量統計-礦物分析顯微鏡
影響礦物單體解離度測定精度的因素
樣品代表性的影響
比重大小不一的選礦產(chǎn)品，堆放時(shí)會(huì )因重力分異作用而
使某些顆粒產(chǎn)生局部富集，造成抽樣誤差。因此，在取樣
縮分過(guò)程中，一定要充分拌勻，用縮分器劃四分法嚴格操
作，直至縮分取得具有代表性的樣品，并按規定脫磁、脫
泥后進(jìn)行分析，才能保證測量統計結果的精度。
在磨制團塊光片時(shí)，礦樣與粘結劑要充分攪拌，粘結劑
的分量要恰當，千萬(wàn)不能過(guò)多，否則礦物顆粒會(huì )比重不同
而造成分布不均勻，產(chǎn)生測量誤差。
截面的影響
邊生體顆粒是立體形態(tài)，而在光片上妯露的僅是其中一
截面，當制片中僅切到一種礦物時(shí)， 不可避免地會(huì )把一
部分邊生體顆粒誤認為是單體顆粒，但決不會(huì )把單體顆粒
誤認為連生體顆粒，因而造成截面單體顆粒比實(shí)際單體顆
粒偏高。根據這種統計數據計算的單體解離度也同樣偏高
，光片中邊生體顆粒愈多，這種誤差愈大。這種誤差要結
合連生類(lèi)型加以修正。
但是，左路用實(shí)體顯微鏡測量統計時(shí)，由于觀(guān)察到的是
礦物顆粒的立體形態(tài)，所以此項誤差基本不存在，因此，
對400目以上的選礦產(chǎn)品，一般應在實(shí)體顯微鏡下觀(guān)測；
對負0.037-0.018mm粒級的產(chǎn)品，才需要磨制成光片在礦
相顯微鏡下觀(guān)測。
后一篇文章：可放大1000倍的相差顯微鏡-檢驗微生物標本 »
前一篇文章：« 電子顯微鏡發(fā)明和應用給生物學(xué)家提供了有力的工具
tags:技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,
用實(shí)體顯微鏡測量統計-礦物分析顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/2085.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/