本文標題："礦物顯微鏡用N.A值較大的物鏡光譜測量?jì)x器"
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礦物顯微鏡用N.A值較大的物鏡光譜測量?jì)x器
顯微鏡的第二耀光會(huì )影響測定結果，避免方法可見(jiàn)
下段。
倍增管光度計特別適用于系統測定礦物在整個(gè)可見(jiàn)
光譜內的反射率，從而繪出反射率色散曲線(xiàn)。
具體測定時(shí)，有下列兩種程序。
（A）先測定反射率標準在可見(jiàn)光所有波長(cháng)在整個(gè)可
見(jiàn)光譜內的反射率，從而繪出反射率長(cháng)中的光電流值
，然后計算末知礦物的反射率。
（B）在某一波長(cháng)測標準和末知礦物后，換一個(gè)波長(cháng)
再測，如此測遍整個(gè)欲測光譜。
上述A法很便利，在采用連續式干涉濾光器時(shí)，
只要一次對焦準確，開(kāi)動(dòng)光度計后，每隔一定間距
（例如10毫微米）推動(dòng)一次連續干涉濾光器，
即可連續記錄標準和礦物在不同單色光下光電流值
（或反射率），僅在用N.A值較大的物鏡時(shí)，
在波長(cháng)相差較大的波段（例如紅光和藍光）
須重新準焦。此法另一優(yōu)點(diǎn)是
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