本文標題："巖體構造斷口,結構面的粗糙度計量光切顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-8-16 21:16:40
巖體構造斷口,結構面的表面粗糙度儀計量光切顯微鏡
大多數巖體，特別是地表以下幾百米范圍內的巖體，是不連續介
質(zhì)，其中包含有在很大程度上決定其力學(xué)性狀的地質(zhì)結構面。因此，
在巖石類(lèi)型的巖性描述以外，更仔細地描述巖體構造和結構面的性質(zhì)
就顯得很重要。這砦能用于某些類(lèi)穩定性分析的參數應該盡可能地定
量化。
例如，在巖石邊坡穩定性分析中，某些定量描述可以直接用于初
步的極限平衡分析。關(guān)鍵性結構面的產(chǎn)狀、位置、持續性、節理水壓
和剪切強度將是用于分析的直接數據。對于初步研究，最后兩個(gè)參數
可以根據對結構面性質(zhì)的仔細描述進(jìn)行概略的估計。象結構面的粗糙
度、結構面壁強度、風(fēng)化程度、充填物類(lèi)型和地下水滲透的標志等，
在工程課題中則是重要的間接數據。
對于隧道穩定性和所需支護的評價(jià)方面，所有的描述都將是間接
數據，因為穩定性的直接分析方法尚在發(fā)展之中。然而， 為了將支護
性能經(jīng)驗外推到新的巖體環(huán)境中，巖體構造的仔細描述和其結構面的
性質(zhì)可能具有重要價(jià)值。描述應該足夠詳細， 使之能成為巖體分類(lèi)的
基礎。
將來(lái)當巖體和結構面的描述成為比較完善和統一的時(shí)候， 就有可
能在巖體中設計工程結構物時(shí)花費最少的現場(chǎng)試驗費用。在任何情況
下，仔細的現場(chǎng)描述都將提高所進(jìn)行的現場(chǎng)試驗的價(jià)值，因為對試驗
結果的解釋和外推將更真實(shí)。
包封材料的表面通常是不夠光滑和平整的，因而不
宜做為位移量表的基準。為此，可將玻璃片膠牢于試塊上。
這些玻璃片應有足夠的大小以適應試件的移動(dòng)。另外，可采
用具有拉線(xiàn)與滑輪系統的遠距離量測系統。整套這種系統必
須是可靠的，并且符合于規定的精度要求。當采用電傳感器
或自動(dòng)記錄設備時(shí)，這方面需要特別小心。
建議試塊大小700×700 X 350毫米為現場(chǎng)試驗的標準
尺寸。當剪切面較平滑時(shí)，較小的試塊是允許的。當試驗很
不規則的剪切面時(shí)，需要較大的試塊。試塊的大小與形狀要
便于安裝，使試塊的剪切面符合于天然節理或裂隙面，這樣
在準備期中可減少試塊的擾動(dòng)。凡限制包封材料或補強材料
的厚度，使包封安置不便的一些表面凸體應予除去。
⑨如果試驗層位對水平面的傾角大予10-20°，則在
切割側邊時(shí)，在試件上面施加小的法向載荷是適宜的。這樣
可以防止過(guò)早滑動(dòng)，也制止松弛和濕脹。這一載荷約為試驗
時(shí)所施加載荷的5-10％。
后一篇文章：互相鑲嵌的地質(zhì)結構斷面測定粗糙度顯微鏡 »
前一篇文章：« 試件相對于巖體的傾斜度試驗機安裝立體顯微鏡
tags:材料學(xué),技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
巖體構造斷口,結構面的粗糙度計量光切顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/2764.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/