本文標題:"把器件置于模擬失效條件用金相顯微鏡觀(guān)察測試質(zhì)量"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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把器件置于模擬失效條件用金相顯微鏡觀(guān)察測試質(zhì)量
忽好忽壞現象的處理 有些應力試驗或現場(chǎng)淘汰的器件的失效現象
是忽好忽壞,對此現象進(jìn)行以下分析:
(1)應力分析 把器件置于模擬失效條件下進(jìn)行測試,或裝在
系統上工作,看其是否正常。改變電源、頻率、負載等條件,觀(guān)察
變化情況??词欠褚虿贿m當的使用引起忽好忽壞。
(2)溫度循環(huán) 在規定的溫度范圍內觀(guān)察是否出現失效現象。
(3)振動(dòng) 振動(dòng)試驗可能再現忽好忽壞現象。一般采用30—60
夕做肋次振動(dòng)循環(huán)。
(4)鏡檢 得到所有電學(xué)數據后打開(kāi)管殼鏡檢內部和用電探針
測試。檢查內部失效的現象。
(5)
有時(shí)通過(guò)分析找到原因,常常是得不出結論;有待進(jìn)一步研究+如
果在整個(gè)分析過(guò)程中沒(méi)有再現忽好忽壞現象,有可能原來(lái)的結論是
錯誤的。
分析程序和以上的舉例都是只用普通的光學(xué)顯微鏡及測試設備的情
況,深入的失效分析工作只用這些手段是不夠的。
理化分析
先進(jìn)的分析設備已成為失效分析中不可缺少的手段。借助于這
些設備弄清了一些失效機理。如金—鋁系統的問(wèn)題,電遷移及鋁膜
通過(guò)氧化層臺階斷裂等,還有一些機理尚待弄清,
如二次擊穿的機理等。下面介紹一些常用的理化分析技術(shù)。
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把器件置于模擬失效條件用金相顯微鏡觀(guān)察測試質(zhì)量,金相顯微鏡現貨供應
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