本文標題：" 金屬線(xiàn)的尺寸較小并且有較大的縱橫比-金屬分析顯微鏡"
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金屬線(xiàn)的尺寸較小并且有較大的縱橫比-金屬分析顯微鏡
有人提出，用串狀鎳結構充當導電填料，并用環(huán)氧樹(shù)脂作為溶劑涂在基板
上，然后將顆粒垂直安置在基板表面，通過(guò)蒸發(fā)溶劑使顆粒與樹(shù)脂混合。實(shí)驗
采用305m集成電路芯片和玻璃基板(Au凸塊的面積為2000μm²，并且凸塊間距
為105m)。實(shí)驗證實(shí)，在高溫、高濕和熱循環(huán)測試條件下(-40一85°C)，新的
ACF表現出良好的導電穩定性。同時(shí)，也在高溫和高濕度下做了絕緣測試。盡管
兩極的距離只有105m，金屬離子并不會(huì )產(chǎn)生遷移，并且在500h內兩極間電阻可持
續維持在1Gfl。這個(gè)結果表明，新的ACF具有更穩定的絕緣性。這也表明，在小
間距精確連接中，它有很大的應用潛力。
為了適應No的小接口縫隙，并防止短路，可以采用較大縱橫比的柱形金屬材
料。由于納米級金屬線(xiàn)的尺寸較小并且有較大的縱橫比，它有較高的穩定性。
納米級金屬線(xiàn)可以用作氣體偵查、磁盤(pán)、電器靈敏元件中
的納米電極和熱電控制裝置等。為制作納米金屬線(xiàn)，了解納米結構至關(guān)重要。雖然
采用過(guò)許多花費很多的方法，如電子束、x射線(xiàn)和掃描測試等，但是對微米尺度的
納米金屬線(xiàn)結構的探知進(jìn)展緩慢。另外一種較便宜的方法，是在微孔基板(如陽(yáng)
極鋁的氧化物(從。)或者聚合物基板〔，，])進(jìn)行金屬電鍍。但是較大尺寸聚合
物的厚度較薄(意味著(zhù)納米金屬線(xiàn)的長(cháng)度很短)，分布不均勻和并且微孔不一致。
然而，AAO)卻有著(zhù)厚度大(> 105m)、微孔尺寸和密度的一致性、大尺寸微孔等
優(yōu)點(diǎn)。Linet等人〔601用納米級金屬線(xiàn)對ACF進(jìn)行了改進(jìn)。他們用電鍍的方法，通過(guò)
AAO基板獲得銀和鉆的納米級金屬線(xiàn)的排列。經(jīng)過(guò)表面處理后，低密度的PI擴散
并能填充于納米金屬線(xiàn)排列的縫隙中。A歲Co雙金屬的納米金屬線(xiàn)排列，會(huì )在Co
和磁場(chǎng)之間產(chǎn)生的磁相互作用力下保持平行。
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