本文標題："非均質(zhì)礦物的光學(xué)雙折率的測定礦物顯微鏡應用"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-10-5 16:34:6
非均質(zhì)礦物的光學(xué)雙折率的測定礦物顯微鏡應用
雙折率的測定同一礦物，切片方向不同，其雙折率亦
不同，測定礦物的雙折率，是指最大雙折率，所以必須在
定向切片中進(jìn)行，一軸晶要選平行光軸的切片；二軸晶要
選平行光軸面的切片，它們的干涉色都是最亮的，其測定
方法如下。
1 、選擇干涉色最高的切片，利用石英楔測定其干涉
色級序；2 、利用同一薄片中已知雙折率的礦物，估計礦
片的厚度；3 、根據測定的干涉色級序及估計薄片厚度，
應用干涉色譜表求出相應的雙折率。
不管光線(xiàn)如何傾斜，其光波的振動(dòng)平面仍然與下偏光
振動(dòng)方向平行。
如前所述，非均質(zhì)礦物的光學(xué)性質(zhì)有方向性，對于不
同方向射入的光所顯現的光學(xué)效應是不同的，當許多不同
方向的入射線(xiàn)同時(shí)通過(guò)晶體后，在到歷上偏光鏡時(shí)所發(fā)生
的消光與干涉效應也各不同相同，所以在錐光鏡下所觀(guān)察
到的，應當是偏光錐中各個(gè)入射光上偏光鏡干涉色圖形，
一般稱(chēng)為干涉圖。
后一篇文章：金屬鑄件設計制造工藝夾雜物檢測金相顯微鏡廠(chǎng)商 »
前一篇文章：« 突起非均質(zhì)礦物的折光率，隨光波振動(dòng)而異
tags:材料學(xué),技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
非均質(zhì)礦物的光學(xué)雙折率的測定礦物顯微鏡應用,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/2911.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/