本文標題："礦物鑒定法，主要應用偏光顯微鏡光鏡下觀(guān)察晶形和解理"

礦物鑒定法，主要應用偏光顯微鏡光鏡下觀(guān)察晶形和解理
　　　
　　　　　　　　　　　　　　　
    透明礦物薄片系統觀(guān)察的內容單偏光鏡下，晶形，解理、相對折光
率、顏色及多色性等。
    正交偏光鏡下：干涉色級序、重折率、消光類(lèi)型、消光角、延性符
合及雙晶等。
    錐光鏡下：軸性、光性正負、切片方位、光軸角及色散現象等。
    上述光學(xué)性質(zhì)中如主折光率、重折率，最大消光角，多色性吸收公
式以及軸性、光性等常數測定，都必須在定向切片中才能得到確實(shí)結果，
為便于掌握，現將一軸晶，二軸晶主要定向切片的光性供參考。
    1 、首先區分透明礦物與不透明礦物，然后根據正交偏光鏡下的消
光現象分出均質(zhì)體與非均質(zhì)體。
    2 、均質(zhì)體的鑒定：均質(zhì)體礦物的特點(diǎn)是在正交偏光鏡下為全消光，
錐光條件下無(wú)干涉圖，因此對于均質(zhì)體礦物僅能在單偏光鏡下觀(guān)察晶形、
解理、顏色、突起、糙面、貝克線(xiàn)等。
    3 、非均質(zhì)體的鑒定：（1 ）在單偏光鏡下觀(guān)察晶形、解理、測定
解理角，測定突進(jìn)等級禾，在正交偏光鏡下觀(guān)察消光類(lèi)型、雙晶、干涉
分級序及延性符號等。
    （2 ）選擇一個(gè)垂直光軸切面，在錐光條件下根據干涉圖特點(diǎn)，確
定軸性，測定光性正負，若為二軸晶，還須估計2V大小，觀(guān)察光軸色散
等，再換單偏光觀(guān)察的顏色并可測定其折光率大小。
    （3 ）選擇平行光軸或平行光軸面的切面，在正交偏光鏡下測定最
高干涉色級序，厚度如果標準，還可求最大重大重折率，測定最大消光
角，確定方位，并利用此種切片測定的顏色，多色性及吸收性，測定折
光率及觀(guān)察閃突起等。
    4 、不透明礦物鑒定法，主要在單偏光鏡下觀(guān)察晶形和解理，在反
射光條件下，觀(guān)察其光澤及顏色，大致確定其礦物種類(lèi)，當遇含油，含
瀝青質(zhì)巖石時(shí)，要注意識別。
 

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