本文標題："夾雜物不均勻分布和夾雜物形狀計量顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2016-3-20 4:33:25
夾雜物不均勻分布和夾雜物形狀計量顯微鏡
顯微斷口學(xué)就是斷裂表面的微觀(guān)檢驗，是故障分析的最重要方法
之一。由于掃描電鏡在日常實(shí)際工作中的應用，近年來(lái)顯微斷口學(xué)變
得日趨重要。顯微斷口學(xué)研究就是確定在特定條件下，斷口的微觀(guān)形
貌與各種負荷參數，如負荷應力類(lèi)型以及環(huán)境影響之間的關(guān)系。
對馬氏體鋼板的三個(gè)互相垂直的斷裂平面進(jìn)行了金相和電子斷口
檢驗。夾雜物的不均勻分布和夾雜物形狀的各向異性產(chǎn)生了看來(lái)好像
不同的斷口，然而在微觀(guān)上又都是延性的。對斷口表面及斷口表面剖
面的仔細檢查表明，
在宏觀(guān)斷裂之前，由硫化物夾雜萌生的空洞有一定程度的長(cháng)大。
由滲碳體成核的空洞的尺寸與原奧氏體晶粒尺寸的比較說(shuō)明，只有很
少數量的滲碳體粒子成為空洞的核，而在每一個(gè)原奧氏體晶粒內卻存
在有數千個(gè)滲碳體粒子。夾雜物分布的數學(xué)特征說(shuō)明，夾雜物的有效
體積百分數取決于斷裂平面的位向，并有助于對斷裂應變各向異性的
理解。本研究強調了在分析斷裂過(guò)程方面常規金相學(xué)與立體電子斷口
學(xué)的一致性。
后一篇文章：電子顯微鏡觀(guān)察硬化水泥漿體結構樣品特征 »
前一篇文章：« 金屬斷面微觀(guān)斷口學(xué)研究實(shí)驗型圖像顯微鏡
tags:材料學(xué),技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,
夾雜物不均勻分布和夾雜物形狀計量顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/3309.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/