本文標題："光學(xué)顯微鏡和電鏡觀(guān)察雜物分布斷口剖面和金相分析"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2016-3-19 4:31:33
光學(xué)顯微鏡和電鏡觀(guān)察雜物分布斷口剖面和金相分析
對三個(gè)互相垂直斷裂平面位向的斷口表面的檢查，得到下述觀(guān)察
結果，這些結果補充了關(guān)于斷口微觀(guān)形態(tài)的現有資料。
1．空洞從夾雜物長(cháng)大是橫著(zhù)加載方向發(fā)生的。橫向空洞長(cháng)大的程度取決于斷裂平
面位向，并已觀(guān)察到，這個(gè)長(cháng)大比夾雜物的b。尺度(即最小尺度)可大到10倍。
2．在每一個(gè)原奧氏體晶粒內存在的成百上千個(gè)強化沉淀相之中，只有很少數在斷
裂過(guò)程中參與了空洞的成核和長(cháng)大。
3．夾雜物的不均勻分布及其形狀的各向異性造成了在三個(gè)互相垂直的斷裂平面位
向上電子斷口特征的差異。
4．夾雜物分布的數學(xué)表征說(shuō)明了夾雜物的有效體積百分數依賴(lài)于斷裂平面位向，
這有助于對斷裂應變各向異性的理解。
收集這些資料的目的，至少是為了定性地描述普通的鍛造馬氏體
鋼中發(fā)生的延性斷裂過(guò)程．照片資料是由光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微
鏡獲得的。斷口剖面分析和金相分析，對于解釋斷裂過(guò)程和斷口表面
分析是同樣重要的。低倍用作性質(zhì)一般的說(shuō)明。
后一篇文章：冰糖狀斷口微觀(guān)多面體(晶粒)顆粒計量顯微鏡 »
前一篇文章：« 材料固有韌性試樣滲碳體金相分析圖像顯微鏡
tags:材料學(xué),技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
光學(xué)顯微鏡和電鏡觀(guān)察雜物分布斷口剖面和金相分析,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/3306.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/