本文標題："移測量或應力分析-相位測量技術(shù)分析"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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移測量或應力分析-相位測量技術(shù)分析
應用
所有這些技術(shù)都可以用于位移測量或應力分析，也可以用于目
標輪廓測量。位移測量是通過(guò)比較物體一個(gè)微小位移前后或加載負
載前后的條紋圖案來(lái)進(jìn)行的 由于這些測試的靈敏度是可變的，
因此相比于全息技術(shù)，它們可以用于更大范圍位移與應力測量。通
過(guò)對所獲得的兩幅條紋圖案進(jìn)行比較，同樣能夠實(shí)現對兩個(gè)物體或
物體與標準件進(jìn)行比較的差分干涉測量術(shù)。最后，利用莫爾技術(shù)進(jìn)
行時(shí)間平均振動(dòng)分析與使用更長(cháng)有效波長(cháng)的時(shí)間平均全息術(shù)獲得的
結果相似。
使用相位測量技術(shù)時(shí)，可以定量地獲得與某些參考面相對的表
面高度。如果等高線(xiàn)在物空間內是等問(wèn)距的直條紋，那么參考面將
是一個(gè)平面。在計算機中，可從表面高度中減去任何理想平面(或
面)以產(chǎn)生和所有表面有關(guān)的表面輪廓。這類(lèi)似于通過(guò)光柵(或變形
光柵)觀(guān)察等高線(xiàn)以減少它們的數量。如果等高線(xiàn)不是等間距直條
紋，參考面將不再是平面。通過(guò)在待測物體位置放置一塊平面，并
測量它的表面高度就可以確定參考面。一旦獲得參考面的面形數據
，就可以在隨后的測量結果將其減去而獲得待測面相對于參考平面
的表面高度。因此．采用相位測量干涉術(shù)可以使表面高度和所有表
面有關(guān)，并且能將其轉化為與另一個(gè)表面有關(guān)的表面高度。對裝置
進(jìn)行更深入的研究，可以將標準件與多個(gè)測試件進(jìn)行比較測試以確
定其形狀是否符合規定。應當指出的是這種測試將會(huì )對某一方向比
較敏感，而且可能存在一些由于表面上的陰影而造成數據丟失的區
域。
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