本文標題："AFM顯微鏡發(fā)明突破了STM對樣品材料的導電要求"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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AFM顯微鏡的發(fā)明突破了STM對樣品材料的導電要求
AFM的發(fā)明突破了STM對樣品材料的導電要求，可對包括絕緣表
面在內的各類(lèi)表面進(jìn)行接近原子級分辨精度的形貌測量。因而AFM
在超精密加工表面形貌測量領(lǐng)域有著(zhù)極其重要的應用價(jià)值。以常見(jiàn)
的接觸模式為例，系統工作時(shí)，AFM探針針尖與樣品表面保持準接
觸狀態(tài)，且針尖相對于樣品表面做X、y向柵格掃描運動(dòng)。掃描過(guò)程
中，探針的懸臂梁將受樣品表面形貌的調制而發(fā)生形變。這一形變
量則由力檢測系統檢測獲得并將其反饋至控制系統?？刂葡到y進(jìn)而
控制掃描管沿Z向伸縮變化以保持懸臂梁的形變量恒定。這樣系統
便可通過(guò)采集掃描管的Z向伸縮量信息獲得樣品表面的三維形貌。
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AFM顯微鏡發(fā)明突破了STM對樣品材料的導電要求,金相顯微鏡現貨供應
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