本文標題："測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡"
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測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡
輻射電子成像法
在傳輸成像中利用電子(或p射線(xiàn))而不是光子，是因為電子受
涂層的影響比受原紙的影響更強烈。這是因為與碳原子占優(yōu)勢的紙
張相比較，無(wú)機顏料有更高的平均原子量。較重的原子有較密的電
子云，因而與電子束的相互作用更強烈。傳輸電子成像就比傳輸光
成像給予更精確的涂布量分布圖像。
Kubelka—Munk理論
Kubelka—Munk理論可用以推測涂層內部相關(guān)顏料堆積效率方
面的信息。有時(shí)往往自然地假設顏料散射性是一個(gè)內在性能，顏料
混合物的散射性可按其顏料成分的線(xiàn)性組合進(jìn)行計算。但實(shí)際并不
是這樣，因為散射性跟顏料所處環(huán)境有十分復雜的關(guān)系。形成顏料
混合物并不難，但其所得的堆積密度則可能會(huì )比單個(gè)組分要好些或
壞些。這就使形成的散射系數低于或高于根據線(xiàn)性綜合計算所預測
的結果。因此如果涂布配料形成低于或高于所需的散射系數，就可
以推斷該涂層比單獨組分有不同的微孔結構?？赡懿煌c(diǎn)或是總
微孔容積或是平均微孔半徑。
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