本文標題："電子顯微鏡的試樣制備都有哪些類(lèi)型-光學(xué)分析"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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電子顯微鏡的試樣制備都有哪些類(lèi)型-光學(xué)分析
透射電子顯微鏡的試樣制備
(1) 超顯微顆粒試樣( 需采用支持膜支承):主要用于形貌觀(guān)
察、顆粒度測定和結構分析等。
(2) 表面復型膜: 這是把欲觀(guān)察試樣的表面形貌用適宜的材
料( 如火棉膠、碳膜等) 復制下來(lái)作為試樣。復型膜只能研究表
面形貌( 顯微組織、斷口、摩擦表面等) ，不能研究試樣的成分
和結構。
(3) 薄膜: 將欲測試樣采用各種方法( 機械法、化學(xué)法、電
化學(xué)法和離子轟擊法等) 減薄到電子
束能穿透的厚度，一般金屬膜厚度為100 ^-200nm,薄膜試樣
除了可以進(jìn)行形貌、成分、結構的靜態(tài)分析外，還可作動(dòng)態(tài)( 相
變、形變、位錯運動(dòng)等) 的觀(guān)察和分析。
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