本文標題："金屬截面光學(xué)顯微鏡觀(guān)察剖面的金相結構"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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除了對斷口的光學(xué)顯微鏡觀(guān)察外還可進(jìn)行斷口剖面觀(guān)察。在分析研究斷裂原因、斷
裂過(guò)程時(shí)，僅靠斷口形貌分析是不夠的，往往還需要觀(guān)察斷口的垂直截面，以利于搞清斷
口表面(主裂紋)走向與晶粒的位向關(guān)系、與晶界的關(guān)系、與夾雜物的關(guān)系、與孿晶的位向
關(guān)系以及二次裂紋的走向與分布等。斷口剖面分析能有效地揭示材料在制造、加工過(guò)程
中產(chǎn)生的缺陷，分析各種不利工況和環(huán)境對材料性能的影響等。它可以對夾雜物、微觀(guān)組
織偏析、脫碳、增碳、熱處理不當、硬化層深度、鍍層厚度、晶粒大小及熱影響區進(jìn)行檢測和
分析。
斷口剖面通常是垂直于斷口表面，有時(shí)也可使剖面與斷口表面呈一定角度。制備剖
面樣品時(shí)必須保護好斷口表面，通常采用鍍鎳保護，也可采用金相鑲嵌法保護。
電子顯微鏡在斷口分析中應用廣泛。它可以依據斷口的微觀(guān)形貌特征判定斷裂的類(lèi)
型，從裂紋源處查明斷裂原因。它還能進(jìn)行斷裂失教的定量分析，如進(jìn)行韌性的定量測
量，分析測定裂紋的擴展速率、斷裂過(guò)程與影響因素之間的定量關(guān)系等。因此，電子斷口
分析對斷裂機理的研究有重要作用。
斷口微觀(guān)形貌中.韌窩、解理花樣、疲勞輝紋等分別是判斷金屬韌性斷裂、解理斷裂和
疲勞斷裂的主要依據。
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