本文標題："帶有質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析-電子衍射原理"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2014-9-4 17:15:2
帶有質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析-電子衍射原理
在所有這些晶間沉淀脆性的事例中，還必須估計到沉淀處理過(guò)程中還會(huì )
出現雜質(zhì)偏析的可能性。它們的不利影響將在以后討論，而這會(huì )加劇沉淀相
引起的脆性。
我們指出從沉淀相影響沿晶斷裂機制這一現象引伸出來(lái)的幾個(gè)有
趣的問(wèn)題?？稍跀嗫谏峡吹教幱谠任恢玫馁|(zhì)點(diǎn)，并可用帶x射線(xiàn)潛儀的掃
描電子顯微鏡對
它們進(jìn)行觀(guān)察和分析。如果質(zhì)點(diǎn)太小，還可用經(jīng)典的電子顯微鏡復型技術(shù)把
它萃取下來(lái)，再通過(guò)電子衍射來(lái)鑒定、或通過(guò)電子探針或直接用帶有x射線(xiàn)
質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析。
這樣一來(lái)，解決問(wèn)題的可能性就增加了。這也體現了顯微斯口學(xué)的長(cháng)處:它
不僅可用來(lái)研究一般的沉淀現象，也是一種解決冶金學(xué)問(wèn)題的研究方法，因
為把造成某種類(lèi)型脆性的元素確認出米，就是為消除這種缺陷邁出了重要的
一步。
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