本文標題："多晶試片的晶粒形狀-一般用于顯微觀(guān)察的金相顯微鏡"
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一般原理（General）
• 有時(shí)必須檢視結構元素和缺陷對材料性質(zhì)的影響。某些結構元素可能為巨觀(guān)的尺寸，
也就是說(shuō)大到足以用裸眼就可觀(guān)察到。
例如，多晶試片的晶粒形狀、平均尺寸大小或晶粒直徑是重要的結構元素特征。
• 巨觀(guān)的晶?？擅黠@于鋁制的路燈柱子和廢棄的罐頭上得到驗證，
同時(shí)具有不同組織的大晶粒也可清楚的鉛錠橫斷面表面觀(guān)察到。
• 一般用于顯微觀(guān)察的（microscopy）包括光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡和掃描探測電子顯微鏡，
這些裝置可用以輔助研究材料的微觀(guān)結構特性
使用光學(xué)顯微鏡觀(guān)察拋光且浸蝕之晶粒所出現之情形。
(b)取自這些晶粒的橫斷面，由于各個(gè)晶粒結晶學(xué)方向的不同，顯現出不同的浸蝕
特性以及所導致各晶粒不同的表面結構。
(c)多晶黃銅試片的顯微照片
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