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本文標題:"顆粒粒度測定方法-電子顯微鏡法"

發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------ 人瀏覽過(guò)-----時(shí)間:2013-1-24 22:54:44

 顆粒粒度測定方法-電子顯微鏡

 
顆粒粒度測定方法:常用的顆粒粒度測定如下:
 
方 法
適用粒度范圍(µm)
一 尺量
肉眼方便的粒度
二 篩分(Screening)
實(shí)驗篩:10,000~74(Subsieve Size 可測至 10µm)
工業(yè)篩:100,000~150
三 升流法(Elutriation)
40~5
四 顯微鏡(光學(xué))法
50~0.25
五 沉降法(Sedimentation) 重力場(chǎng)中:40~1.0;離心場(chǎng)中:5~0.05
六 電子顯微鏡法
1~0.005
 

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