本文標題："超高分辨顯微學(xué)研究所需專(zhuān)門(mén)設備實(shí)驗室顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2015-8-7 10:12:10
超高分辨顯微學(xué)研究所需專(zhuān)門(mén)設備實(shí)驗室顯微鏡
鑒于高分辨率工作中干涉效應的重要性，我劃出了單獨幾章專(zhuān)
門(mén)討論相干性和波動(dòng)光學(xué)。其中包含了一些數學(xué)內容，但我已盡量
使其簡(jiǎn)化。
遺憾的是：雖然理論家們作了很大努力，但是尚未只到一般樣品的高
分辨率象和樣品結構之間某種簡(jiǎn)單的解析關(guān)系。因此必須仔細研究
可以用樣品結構作簡(jiǎn)單圖象解釋時(shí)的各種不同的實(shí)驗條件。只有理
解了影響圖象的實(shí)驗參量，才能對某種特定樣品的實(shí)驗條件作出明
智的選擇。例如，高分辨率的暗場(chǎng)象很可能包含一些錯誤的特征。
然而，由于制樣技術(shù)的進(jìn)展(現在有些樣品可以制成僅為幾個(gè)nm厚)
和使用了較高的加速電壓，所以有關(guān)成象的最簡(jiǎn)單理論很可能繼續
流行下去。
超高分辨顯微學(xué)研究所需專(zhuān)門(mén)設備的少數研究性實(shí)驗室。目前這些
方法正迅速普及。
若圖象分辨率限制在0．36am左右，則現在可能提出一種直
接的步驟來(lái)記錄許多樣品的象，它們可以無(wú)困難地按樣品結構予以
解釋。
常規透射型電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡相比，就其圖象襯度(強
度變化)是由于樣品上逐點(diǎn)的光學(xué)吸收不同所引起的，從這一點(diǎn)來(lái)
看，兩者是極其相似的。許多電子顯微學(xué)家也用類(lèi)似的方法來(lái)解釋
其電鏡象，他們用‘吸收’來(lái)表示電子在物鏡孔徑(aperture，或
光闌)。外的散射。實(shí)際上電子絕不會(huì )被樣品‘吸收’，它們只能
因大角度散射到物鏡光闌以外而從圖象中丟失，或者是由于在樣品
中能量損失和波長(cháng)變化，它們可能在距顯示彈性散射象的觀(guān)察屏較
遠的一個(gè)平面上聚焦。
故這種離焦非彈性’散射或能量損失象
對正聚焦(in-foeus)彈性散射象的影響，只是提供了一個(gè)均勻的背
景。 因而圖象襯度一般可理解為由于在大角度散軌即大‘質(zhì)量厚
度’區域產(chǎn)生的強度損失而造成的，這種大角度散射射線(xiàn)被物鏡光
闌所截住。描述這個(gè)過(guò)程的理論是非相干成象理論
通過(guò)比較可知，高分辨率透射電子顯微鏡與光學(xué)相(位)襯(度)
顯微鏡(phasecon~rastmicroscope)是十分類(lèi)似的。
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