本文標題:"電子和光學(xué)顯微學(xué)觀(guān)察樣品的象中得到襯度的變化"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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電子和光學(xué)顯微學(xué)觀(guān)察樣品的象中得到襯度的變化
在電子和光學(xué)顯微學(xué)中,在精確聚焦下襯度不足的原因是相
同的一一這些薄樣品(‘相位物體’)僅影響透過(guò)樣品的波的相位,
而不影響它的振幅。這樣,其作用象一種折射率可變的介質(zhì)
如果我們想要‘看見(jiàn)’例如在電鏡中的原子,就必須把這
只有使用相干照明和一個(gè)有‘缺陷’顯微鏡時(shí),我們才有希望
從一個(gè)只有折射率變化的樣品的象中得到襯度的變化。在薄樣品
的高分辨電子顯微學(xué)中精確控制照明的相千性(illumination
coherence)和離焦量(defect of foous),乃是成功之關(guān)鍵。隨照
明相干性的改進(jìn),高分辨率顯微象中精細的細節量會(huì )有顯著(zhù)的增加,
而在聚焦設置不當情況下拍攝照片,也可能會(huì )觀(guān)察到完全謬誤的
細節。
為了說(shuō)明在高分辨率時(shí),相干性對成象質(zhì)量的影響
出了在其它條件相同,而照明相干性大為不同的各種條件下無(wú)定
形碳膜的象。在‘非相干’圖象中精細細節的丟失是明顯的。實(shí)際
上,在裝有常規的發(fā)叉形燈絲的電鏡中,照明相干性是由第二聚光
鏡光闌尺寸所決定的,這是一個(gè)產(chǎn)生高相干性的小孔徑。對足夠
小的電子源(如場(chǎng)發(fā)射、點(diǎn)狀陰極或LaBo源)照明可能是完全相
干的,而與第二聚光鏡(照明)孔徑的選擇無(wú)關(guān)。對這些電子源來(lái)
說(shuō),兩個(gè)聚光鏡縮小比率的設置對決定樣品處相干性程度也是重
需要著(zhù)重強調的主要變化在于:在常規成象時(shí),我們涉及的是厚樣
品,可能是染色樣品,用一個(gè)小的物鏡孔徑和大的聚光鏡光闌來(lái)成
象,聚焦不存在特殊問(wèn)題。而在高分辨率相位襯度成象時(shí),涉及的
是盡可能薄的(不染色的)樣品,用一個(gè)最佳尺度的較大物鏡光闌和
一個(gè)小的照明光闌。聚焦的選擇變得很苛刻,或者以計算所得的象
憑經(jīng)驗加以指導,或者以樣品所要結構的鄰近有已知結構小區域的
出現憑經(jīng)驗加以指導。對大多數不小于0.85nm分辨率所成象的大
單胞晶體來(lái)說(shuō),為了能給出一個(gè)容易解釋而不包括虛假細節的象,
當顯微鏡的球差系數為1—2mm吼聚焦應選擇在欠焦(減弱透鏡)60--
90nm的范圍內。為了設置這樣的聚焦條件,必須校準聚焦控制鈕。
在8。土節中給出了測量焦距級差(thefoousinorements)的各種方
法。
高分辨率工作對儀器的要求和變動(dòng)
電子顯微鏡的主要制造廠(chǎng)家所提供的儀器性能都是十分接近的
。所有儀器都能給出點(diǎn)分辨率優(yōu)于0.35nm的明場(chǎng)象?,F在傾向于
在高分辨率工作中用旁插式同心傾角臺,這種樣品臺生物工作者已
用了多年,而對于高分辨率的工作,這種臺會(huì )使對小晶體的定向大
為方便,因為使用這種樣品臺,隨樣品傾斜產(chǎn)生的橫向位移將會(huì )最
小。但對需長(cháng)時(shí)間曝光的暗場(chǎng)工作時(shí),這類(lèi)樣品臺的性能還有待于
評價(jià)。 因為過(guò)去使用這類(lèi)樣品臺時(shí),由于熱效應而引起的漂移速
率比頂插式的樣品臺要大得多。
實(shí)驗室如果現在已經(jīng)購置了透射顯微鏡,并想用它開(kāi)展高分辨
率研究工作,則應考慮以下各點(diǎn)。
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