本文標題："顯微鏡測量覆層厚度-光學(xué)儀器測量覆層顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2016-5-7 21:2:14
顯微鏡測量覆層厚度-光學(xué)儀器測量覆層顯微鏡
(1)放大倍數在任何給定覆層厚度情況下，測量誤差隨
鏡頭放大倍數的減小而增大，通常選擇顯微鏡的放大倍數應使視
場(chǎng)直徑是覆層厚度的1.5一3倍，并要求與在整個(gè)視場(chǎng)中的放大倩
數一致。在通過(guò)光電轉換和放大的光學(xué)儀器中，放大倍數的穩定是
十分重要的，電子電路不穩定將會(huì )產(chǎn)生很大的誤差。對此，一般。
疵增加校正次數，而且測量操作應在校正后的短暫時(shí)問(wèn)內進(jìn)行。
(2)載物臺測微器的校正 載物臺測微器必須經(jīng)過(guò)檢定單
位嚴格校正，否則將會(huì )造成誤差。
(3)目鏡測微器的校正 目鏡測微器應經(jīng)過(guò)嚴格校正，否
則也會(huì )帶來(lái)誤差，且目鏡測微器產(chǎn)生誤差還與操作人員有關(guān)，通
常目鏡測微器由測量人員自己進(jìn)行校正。
(4)間隙校正在調整目鏡測微器時(shí)，由于測微器傳動(dòng)閫．
隙的存在，測微器正反向旋轉讀數可能不一樣而產(chǎn)生誤差，對此．
應以同一方向旋轉進(jìn)行分度對準以減少誤差．
(5)分劃板十字線(xiàn)的對準 在利用光學(xué)儀器測量覆層厚度
時(shí)，一般用目鏡分劃板十字線(xiàn)的一側和覆縣兩邊界對準，這樣可
以減小由于十字線(xiàn)對不準所產(chǎn)生的誤差。
(6)目鏡位置 目鏡每次置于鏡筒內位置不同，即置入深“
度變化，則有可能導致放大倍數的變化。若測量和校準儀器目鐃
位置不同，顯然會(huì )導致誤差。在雙筒目鏡情況下，如果兩眼瞳孔
(7)記錄圖紙穩定性 隨著(zhù)環(huán)境溫度和濕度的變化，記錄
圖紙會(huì )發(fā)生變形，記錄圖形位置也會(huì )有所變化，若利用該種匝
紙、圖形來(lái)確定覆層厚度，也將會(huì )帶來(lái)誤差。
后一篇文章：測量線(xiàn)材或棒材的鍍層厚度-線(xiàn)材鍍層測試顯微鏡 »
前一篇文章：« 測量覆層取樣的方法-檢測件的結構分析顯微鏡
tags:材料學(xué),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
顯微鏡測量覆層厚度-光學(xué)儀器測量覆層顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁(yè)地址：/gxnews/3431.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/