亚洲日本女优精品一区二区-秋霞毛片亚洲午夜精品a-一区二区在线观看精品日韩av-午夜精品亚洲日日做天天做

歡迎來(lái)到上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)

本文標題:"封裝技術(shù)焊接機械應力精細零件分析顯微鏡"

發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過(guò)-----時(shí)間:2017-6-13 22:47:48

封裝技術(shù)焊接機械應力精細零件分析顯微鏡

 
對封裝技術(shù)的要求
    現代封裝技術(shù)是開(kāi)發(fā)高集成系統的關(guān)鍵技術(shù)。通過(guò)減少結構尺
寸來(lái)增加功能密度的要求已經(jīng)實(shí)現,由此已大大提高了信號處理的
速度。VLSI(大規模集成)電路具有的特色是:高的工作頻率,短的
脈沖上升,但同時(shí)也具有高的功率損失并需要大量的外部連接線(xiàn)。
考慮到通訊技術(shù)電路、門(mén)陣列、標準單元和微處理器,有較大數量
的輸入和輸出信號觸點(diǎn)需要控制。
    通過(guò)集成大量的邏輯功能,一個(gè)隔離的集成電路可在一臺復雜
設備的總功能中起著(zhù)決定性作用,同時(shí)也需要集成電路有高的可靠
性?,F代集成電路可以包含有超過(guò)一百萬(wàn)個(gè)晶體管。集成電路的能
耗隨晶體管數量和工作頻率的增加而提高。盡管每一個(gè)晶體管的能
耗隨著(zhù)應用新技術(shù)而降低,但它仍隨著(zhù)芯片的增加而增加。在通訊
技術(shù)領(lǐng)域,預期IC(集成電路)的能耗超過(guò)200W。
    芯片的功率損耗導致了溫度升高,這致使芯片失效的幾率呈指
數上升。因此,必須通過(guò)降低相鄰散熱片的熱導率,使芯片的溫度
保持在較低的水平。芯片失效的另一原因是機械應力。熔焊接頭斷
裂失效的經(jīng)驗關(guān)系是:在調查中,由于溫度循環(huán)造成的失效占50%
,且與電氣接觸應力的平方成反比。封裝技術(shù)的重要條件是:用于
連接元件的材料能夠迅速去除任何熱點(diǎn),組成的各元件的熱膨脹系
數應一致,這樣可使接點(diǎn)處的剪應力盡可能小。
 

后一篇文章:微機電芯片元件粘接技術(shù)-質(zhì)量檢測顯微鏡 »
前一篇文章:« 懸浮顆粒分類(lèi)微結構技術(shù)樣品檢測顯微鏡


tags:技術(shù),實(shí)驗,金相顯微鏡,上海精密儀器,

封裝技術(shù)焊接機械應力精細零件分析顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應


本頁(yè)地址:/gxnews/4298.html轉載注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/